KATALOG GŁÓWNY
Kontrast

Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych : [IX Krajowa Konferencja z cyklu Diagnostyka Edukacyjna, Łódź, 24 - 26 września 2003 r.] /

red. Bolesław Niemierko ; współred. Janina Sygniewicz, Wojciech Walczak.
Łódź : Wydawnictwo Wyższej Szkoły Humanistyczno-Ekonomicznej w Łodzi, 2004.
395 s. : rys., wykr. ; 24 cm.
1
brak wypożyczeń
Bibliogr. przy ref.

Dokument drukowany.
Materiały konferencyjne.

83-87814-92-X
Niemierko, Bolesław (1935- ) Red.
Sygniewicz, Janina Red.
Walczak, Wojciech (1959- ) Red.
Wyższa Szkoła Humanistyczno-Ekonomiczna (Łódź, Polska).
Okręgowa Komisja Egzaminacyjna (Łódź, Polska).
Wojewódzki Ośrodek Doskonalenia Nauczycieli (Łódź, Polska).
KRAJOWA KONFERENCJA DIAGNOSTYKI EDUKACYJNEJ (9 ; 2003 ; Łódź, Polska).
005.745
37.091.26
37.091.27




Kongresy. Konferencje. Zjazdy.
Metody oceny i kontroli postępów w nauce uczniów. Oceny szkolne.
Egzaminy szkolne. System kwalifikacyjny. Konkursy. Egzaminy pisemne, ustne, egzaminy praktyczne. Wymagania egzaminacyjne. Sprawdzian dla szóstoklasistów. Egzaminy gimnazjalne. Egzaminy wstępne do szkół. Egzamin maturalny. Olimpiady szkolne. Komisja egzaminacyjna. Warunki przeprowadzania egzaminów.

 



EGZAMINY SZKOLNE
MATERIAŁY KONFERENCYJNE
OCENY SZKOLNE

Rodzaj dokumentu:
Książka


Egzemplarz
miejsce status data zwrotu ostatnia akcja w systemie kod kreskowy akcje
Biblioteka Uniwersytecka - Wypożyczalnia (BU.262544) Dostępny 11/06/2019 2000102625444 Zamów
Rekord: