Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych : [IX Krajowa Konferencja z cyklu Diagnostyka Edukacyjna, Łódź, 24 - 26 września 2003 r.] /
red. Bolesław Niemierko ; współred. Janina Sygniewicz, Wojciech Walczak.
Łódź : Wydawnictwo Wyższej Szkoły Humanistyczno-Ekonomicznej w Łodzi, 2004.
395 s. :
rys., wykr. ;
24 cm.
1
brak wypożyczeń
Bibliogr. przy ref.
Dokument drukowany. Materiały konferencyjne.
83-87814-92-X
Niemierko, Bolesław (1935- ) Red.
Sygniewicz, Janina Red.
Walczak, Wojciech (1959- ) Red.
Wyższa Szkoła Humanistyczno-Ekonomiczna (Łódź, Polska).
Okręgowa Komisja Egzaminacyjna (Łódź, Polska).
Wojewódzki Ośrodek Doskonalenia Nauczycieli (Łódź, Polska).
KRAJOWA KONFERENCJA DIAGNOSTYKI EDUKACYJNEJ (9 ; 2003 ; Łódź, Polska).
005.745
37.091.26
37.091.27
Egzemplarz
miejsce
status
data zwrotu
ostatnia akcja w systemie
kod kreskowy
akcje
Biblioteka Uniwersytecka - Wypożyczalnia
(BU.262544)